Перечислить основные механические характеристики наноструктурных тонких пленок и покрытий. Описание модели сверхтвердой наноструктурной тонкой пленки.
К механическим характеристикам наноструктурных тонких пленок относятся: твердость Н; эффективный модуль упругости Е* =Е/(1- ν2) (где ν – коэффициент Пуассона); упругая деформация разрушения H/E; сопротивление пластической деформации H3/E2; величина упругого восстановления We; пластическая деформация Wp;
Прямая зависимость в виде аппроксимирующих уравнений, связывающих Wp, Н и H3/E2, отсутствует. Существует лишь качественная связь - с ростом Н и H3/E2 происходит уменьшение Wp. Причем пленки с твердостью более 25 ГПа имеют сравнительно низкие значения пластической деформации примерно 30%.
Суть модели сверхтвердой тонкой пленки состоит в том, что свободные от дислокаций нанокристаллы твердых фаз размером 3-10 нм окружены тонкой прослойкой аморфной фазы размером 1-2 нм. При этом предполагается, что поскольку в нанокристаллах и аморфной фазе отсутствует дислокационная активность, то такие пленки обладают высоким сопротивлением пластической деформацииH3/E2 и высокой величиной упругого восстановления We.
Какие известны механизмы локализованной деформации наноструктурных тонких пленок. В чем физический смысл данных механизмов?
Установлено два основных механизма локализованной деформации наноструктурных пленок: гомогенная и негомогенная с образованием ступенек сдвига. Оба механизма деформации осуществляются путем скольжения столбчатых элементов структуры – отдельных зерен или мультизеренных объемов материала - параллельно приложенной нагрузке. В случае слабой химической связи между соседними зернами отдельные элементы структуры при снятии нагрузки могут выталкиваться наружу в результате релаксации упругих напряжений. Негомогенный механизм деформации имеет кооперативную природу смещения столбчатых элементов структуры вследствие сильной энергии связи между зернами. Встречается также смешанный механизм деформации, когда наряду с кооперативным смещением столбчатых кристаллов также выделяются индивидуальные элементы колонной структуры.
Каковы основные причины пониженной жаростойкости (стойкости к высокотемпературному окислению) поликристаллических пленок и пленок с выраженной колонной структурой? Предложить эффективные пути увеличения жаростойкости покрытий.
Общие особенности покрытий с поликристаллической структурой- прямой доступ кислорода по механизму поверхностной реакционной диффузии по границам раздела зерен или колон к подложке. Это является основной причиной сравнительно низкой жаростойкости поликристаллических пленок и пленок с выраженной колонной структурой.
Эффективным путем увеличения жаростойкости является переход к наноструктурным пленкам путем подавления рекристаллизации нанокристаллов посредством создания плотной композиционной структуры, в которой кристаллиты находятся в аморфной матрице, содержащей элементы (Si, Al, Cr, В) с высоким химическим сродством к кислороду. Например, композиция Si3N4/MeNxc высоким (более 50 ат.%) содержанием аморфной фазы а-Si3N4 удовлетворяют этим требованиям. Пленки имеет высокую жаростойкость при 1000оС, при этом сохраняя высокую твердость 20 – 40 ГПа.
Позитивное влияние аморфизирующих элементов (Si, Al и В) на жаростойкость наноструктурных пленок в системах Ti-B-N, Ti-Si-B-N, Ti-Si-C-N, Ti-Al-C-N, Ti-C-Bпроявляется в следующем:
- увеличивается содержание аморфных фаз (a-Si3N4, a-AlN, a-BN, a-B4C);
- растет термическая стабильность наноструктурного состояния;
- на поверхности пленки образуется барьерная защитная оксидная пленка, препятствующая проникновению кислорода к подложке. Например, при температуре 800оС в наноструктурных пленках системы Ti-Al-C-N кислород растворяется в ГЦК решетке (Ti, Al)1-x(C, N)x. При температуре 1000оС алюминий диффундирует к поверхности пленки и образует защитный оксидный слой Al2O3, препятствующий дальнейшему окислению.
Стойкость к высокотемпературному окислению возрастает в ряду Ti-B-N®Ti-Si-B-N®Ti-Cr-B-N®Ti-Al-Si-B-N. Высокая жаростойкость пленок Ti-Cr-B-N и Ti-Al-Si-B-N обусловлена формированием защитных слоев на основе оксидов (Ti,Cr)BO3 иTixAlySiOz.
Какова природа размерной зависимости прочности тонких пленок и пленочных многослойных гетероструктур. Почему границы зерен в поликристаллических образцах, дефекты упаковки в монокристаллических являются препятствием для скольжения дислокаций? Какая возможность имеется для реализации скольжения через границу зерен?
В тонких монокристаллических пленках дислокации локализуются в плоскостях скольжения и закреплены на обеих поверхностях, имея минимальную длину L. Напряжение течения кристалла τ=Gb/L, где G – модуль сдвига, b – вектор Бюргерса дислокации. С учетом возможной развитости рельефа поверхности пленок следует ожидать локальные барьеры для скольжения дислокаций. Генерирование дислокаций зарождением с поверхности как действие источника Франка-Рида активируется при выполнении критерия: радиус дислокационной петли r=L/2. Этот критерий накладывает ограничения на зарождение дислокаций с свободных поверхностей пленки (r=Gb/2τ).
Прохождение дислокации через границу зерен, включая и границы двойников, запрещается инвариантностью вектора Бюргерса конкретной дислокации. По этой же причине и плоскость дефекта упаковки является преградой для скольжения дислокаций.
Прохождение дислокаций «сквозь границу» возможно только посредством дислокационных реакций в границе. Например, дислокация с вектором Бюргерса (1) первого зерна (ГЦК решетка) при взаимодействии с границей, близкой к специальной с Σ = 5, может распадаться на
Взаимодействие двух зернограничных дислокаций с соответствующими векторами Бюргерса может привести к испусканию границей во второе зерно дислокации с решеточным вектором Бюргерса.