В разделе “Компетентное мнение” опубликована статья директора компании ФБУ “Тест-С.-Петербург”, академика РАН В.В.Окрепилова о стандартизации и метрологии при обеспечении безопасности продукции наноиндустрии
В разделе «Конференции, семинары, выставки» опубликованы статьи Д.Георгиева Д.Гудилина. Первая посвящена маркетингу инноваций, а вторая международному форуму Открытые инновации.
В разделе «Промышленные технологии» опубликована статья компании Остек о сборке интегральных схем по технологии 3D-интеграции.
Значительный объем журнала занял раздел «Контроль и измерения». В нем представлена статья А.Усеинова, К.Кравчука, И.Масленикова «Индентирование. Измерение твердости и трещиностойкости твердых покрытий», в которой рассматриваются способы определения механических характеристик тонкопленочных покрытий с применением индентирования и склерометрии.
В публикации Т.Зиминой и В.Лучинина обсуждаются проблемы создания лаборатории на чипе и микробиологической экспресс-диагностике патогенных бактерий,
Статья T.Дайенга посвящена конфокальной рамановской 3D-визуализации высокого разрешения нитридов III группы.
ля ознакомления — обращаться в редакцию. +7 (495) 234-01-10 доб. 183; факс +7 (495) 956-33-46 (journal@electronics.ru, сайт журнала - www.nanoindustry.su). По вопросу размещения статей, рекламы и новостей обращаться к Цаплину Алексею Петровичу, тел. 89165246450 (ats71@mail.ru).
