Более семидесяти лет прошло после создания первого электронного микроскопа, и, тем не менее, электронная микроскопия до сих пор остается активно развивающимся направлением науки и техники. Это продемонстрировали признанные специалисты в этой области на состоявшейся в Берлине (Германия) Осенней научной школе по электронной микроскопии. Из шести представителей российской делегации, трое - питомцы ФНМ МГУ. Всего в работе школы участвовало около 100 человек из 16 стран. Научная школа называлась "Микроскопия как современный метод исследования материалов", и проходила она с 8 по 11 октября 2007 г. на территории физического факультета кафедры электронной микроскопии Университета Гумбольдта в Берлине.
Целью прошедшей научной школы было -- продемонстрировать современные направления развития и новые методы электронной микроскопии в материаловедении. В течение недели работы школы перед слушателями выступили признанные ученые -- специалисты по современным методам электронной и оптической микроскопий. Кроме этого, было отведено время для дискуссий устных и стендовых докладов, на которых молодые ученые представляли результаты своих исследований, после чего могли обсудить их со своими старшими коллегами.
Среди наиболее интересных сообщений следует указать на доклад о методах просвечивающей электронной микроскопии профессора Х.Штранка (Штуттгарт, Германия). Довольно подробно прозвучало описание техники обработки данных и их интерпретации. Проиллюстрировано реальными примерами изучение механических свойств промышленно важных сплавов и динамики дефектообразования полупроводниковых материалов.
Также большой интерес участников школы вызвали доклады о возможностях аналитических методов электронной микроскопии, таких, как дифракция в сходящемся луче, спектральном анализе энергетических потерь электронов (F. Hofer, Graz, Austria), которые открывают новые возможности для материаловедения (анализ состава, структуры и т. д.) и пути развития количественных методов в электронной микроскопии.
В рамках семинара представители ведущих компаний-производителей на рынке научного и аналитического оборудования знакомили молодых ученых с реальными возможностями новейших моделей электронных микроскопов. Так FEI Company в лице B. Freitag сделала заявление о микроскопе-рекордсмене. Удивительный аппарат Titan, созданный в рамках американско-европейского проекта TEAM, получил свои первые изображения с рекордным разрешением 0,05 нанометра. Это равно четверти поперечника атома углерода. Чтобы понять, какие новый инструмент открывает возможности по изучению материалов или биологических молекул, нужно добавить, что диаметр спирали ДНК составляет целых 2 нанометра. TEAM означает Transmission Electron Aberration-corrected Microscope, то есть трансмиссионный электронный микроскоп с коррекцией аберрации. Он появился в результате смешения двух технологий: электронного микроскопа сканирующего и трансмиссионного типов (так называемая технология S/TEM). Для повышения разрешения здесь был применён ряд новаций, в частности, сразу две оригинальные системы коррекции сферической аберрации.
К слову, предыдущий рекордсмен был создан в национальной лаборатории в Окридже. И его достижение равняется 0,06 нанометра.
В 2009-м новый микроскоп-рекрдсмен должен быть полностью отлажен, испытан и приступить к работе.
Целью прошедшей научной школы было -- продемонстрировать современные направления развития и новые методы электронной микроскопии в материаловедении. В течение недели работы школы перед слушателями выступили признанные ученые -- специалисты по современным методам электронной и оптической микроскопий. Кроме этого, было отведено время для дискуссий устных и стендовых докладов, на которых молодые ученые представляли результаты своих исследований, после чего могли обсудить их со своими старшими коллегами.
Среди наиболее интересных сообщений следует указать на доклад о методах просвечивающей электронной микроскопии профессора Х.Штранка (Штуттгарт, Германия). Довольно подробно прозвучало описание техники обработки данных и их интерпретации. Проиллюстрировано реальными примерами изучение механических свойств промышленно важных сплавов и динамики дефектообразования полупроводниковых материалов.
Также большой интерес участников школы вызвали доклады о возможностях аналитических методов электронной микроскопии, таких, как дифракция в сходящемся луче, спектральном анализе энергетических потерь электронов (F. Hofer, Graz, Austria), которые открывают новые возможности для материаловедения (анализ состава, структуры и т. д.) и пути развития количественных методов в электронной микроскопии.
В рамках семинара представители ведущих компаний-производителей на рынке научного и аналитического оборудования знакомили молодых ученых с реальными возможностями новейших моделей электронных микроскопов. Так FEI Company в лице B. Freitag сделала заявление о микроскопе-рекордсмене. Удивительный аппарат Titan, созданный в рамках американско-европейского проекта TEAM, получил свои первые изображения с рекордным разрешением 0,05 нанометра. Это равно четверти поперечника атома углерода. Чтобы понять, какие новый инструмент открывает возможности по изучению материалов или биологических молекул, нужно добавить, что диаметр спирали ДНК составляет целых 2 нанометра. TEAM означает Transmission Electron Aberration-corrected Microscope, то есть трансмиссионный электронный микроскоп с коррекцией аберрации. Он появился в результате смешения двух технологий: электронного микроскопа сканирующего и трансмиссионного типов (так называемая технология S/TEM). Для повышения разрешения здесь был применён ряд новаций, в частности, сразу две оригинальные системы коррекции сферической аберрации.
К слову, предыдущий рекордсмен был создан в национальной лаборатории в Окридже. И его достижение равняется 0,06 нанометра.
В 2009-м новый микроскоп-рекрдсмен должен быть полностью отлажен, испытан и приступить к работе.
Максимов В., Калитка В., Бойцова О.
