XXVII Российская конференция по электронной микроскопии состоится 28 − 30 августа 2018 года в г. Черноголовка Московской области.
Научная программа:
1. Новые методы просвечивающей/растровой электронной микроскопии, электронной дифракции и микроанализа. Hовые приборы, элементы электронной оптики, детекторы и обработка изображений.
2. Крио-ЭМ и применение электронной, конфокальной сканирующей микроскопии в биологии и медицине.
3. Электронная микроскопия, электронная дифракция и микроанализ в исследовании новых материалов.
4. Растровая электронная и ионная микроскопия. In-situ исследования в РЭМ.
5. Методы электронной микроскопии и микроанализа в исследовании предметов культурного наследия.
6. Сканирующая зондовая микроскопия.
7. Исследование сверхбыстрых процессов, фемтосекундная микроскопия, динамическая электронная кристаллография.
8. Электронная и ионная литография. Микроскопия в современных технологиях.
9. Электронная микроскопия в химии, геологии и метеоритоведении
10. Другие применения электронной микроскопии и комплементарных методов.
5-ая Школа молодых ученых «Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях органических, неорганических наноструктур и нано-биоматериалов» состоится 26-27 августа 2018 года в Доме ученых г. Черноголовка МО.
Участие в школе предполагается бесплатным, размещение в гостинице Управления эксплуатации Научного центра Российской академии наук.
Доклады будут опубликованы в виде отдельного сборника, часть - как статьи в научных журналах, индексируемых в базе Web of Science.
На сайте Конференции https://www.crys.ras.ru/rcem/ <https://www.crys.ras.ru/rcem/> можно получить дополнительную информацию и пройти регистрацию.
Важные даты
Регистрация участников школы на сайте до 10 марта 2018 года.
Регистрация участников конференции до 10 марта 2018 года.
Прием тезисов участников школы до 15 марта 2018 года.
Прием тезисов на конференцию до 1 апреля 2018 года.
Ученый секретарь Научного Совета РАН по электронной микроскопии
д.ф.м.н. Толстихина А.Л.