Компания НТ-МДТ примет участие в XXVI Российской конференции по электронной микроскопии (РКЭМ – 2016), которая пройдет в рамках Международного форума «Техноюнити – РКЭМ 2016» с 30.05.2016 по 03.06.2016.
В этом году конференция будет проведена в г. Зеленограде, центре Российской микроэлектроники, на территории микроэлектронного кластера «Техноюнити»
Ведущие специалисты НТ-МДТ сделают доклады о современных тенденциях в области СЗМ и уникальных решениях, реализованных в производимом оборудовании.
30 мая, в рамках школы молодых ученых, Вячеслав Викторович Поляков, директор по разработкам НТ-МДТ, расскажет про ”Современные методики исследования поверхности с помощью атомно-силовой микроскопии.”
31 мая, на конференции выступит Быков Виктор Александрович с устным докладом ”Новые возможности сканирующей зондовой микроскопии и спектроскопии.”
2 июня доклад на тему ”Ближнепольная ИК-микроскопия и спектроскопия комбинационного рассеяния с нанометровым пространственным разрешением.” сделает Шелаев Артем Викторович.
С удовольствием приглашаем вас посетить уникальный мастер класс от нашей компании, где можно будет в реальном времени наблюдать за демонстрацией работы атомно-силового микроскопа НЕКСТ, обладающего широчайшим набором современных методик зондовой микроскопии, пообщаться и задать любые интересующие вопросы инженерам и разработчикам компании, а так же провести измерения образцов.
Дополнительную информацию можно получить на официальном сайте конференции: http://purple.ipmt-hpm.ac.ru/sem/