22 октября 2015 г. в 10:30 в рамках «Открытого лектория» состоится вебинар на тему: «Метрология в нанодиапазоне: применение для оценки качества продукции в компаниях наноиндустрии». Приглашаем студентов, аспирантов, преподавателей, специалистов по внедрению новых технологий, всех, кто интересуется нанотехнологиями, к бесплатному участию.
Регистрация доступна по ссылке.
То, что мы измеряем, влияет на то, что мы делаем. Если у нас неверное измерение, мы будем иметь неверные результаты…», - сказал Джозеф Стиглиц (Лауреат Нобелевской премии).
Медицина, охрана окружающей среды и обеспечение безопасности труда, научные исследования и производство, транспорт и связь, геодезия и гидрометеорология, торговля и финансы - нет такого вида деятельности, где бы решающее значение ни имели измерения. Мы оцениваем температуру воздуха на улице, следим за временем, решаем насколько выгодно и рационально практически любое наше действие. С измерениями связана деятельность человека на любом предприятии. Инженеры промышленных предприятий, осуществляющие метрологическое обеспечение производства, должны иметь полные сведения о возможностях измерительной техники, для решения задач взаимозаменяемости узлов и деталей, контроля производства продукции на всех его жизненных циклах. Их точность и сопоставимость обеспечивает метрология.
К сожалению, на сегодняшний день в обществе недостаточно достоверной информации о нанометрологии. Метрология занимает особое место среди технических наук, так как впитывает в себя самые последние научные достижения, что выражается в совершенстве ее эталонной базы и способов обработки результатов измерений.
Вебинар познакомит участников с основными направлениями и тенденциями развития нанометрологии. Слушатели узнают об этапах развития, текущем состоянии нанометрологии и перспективах ее развития. Спикер расскажет об основных направлениях развития нанометрологии, отметит ее особенности и практическое применение в наноиндустрии.
Ключевые вопросы вебинара:
сущность нанометрологии;
нанообъекты;
методы исследований нанообъектов;
метрологическое обеспечение наноизмерений;
практическое применение нанометрологии на примере действующих предприятий наноиндустрии;
перспективы развития нанометрологии.
Спикером выступает к.ф.-м.н. Токунов Юрий Матвеевич, ведущий научный сотрудник Московского физико-технического института.
Научные интересы Ю. Токунова находятся в областях исследований функциональных наноматериалов, измерений параметров нанообъектов, разработки методик измерений. Он является экспертом-метрологом с 2010 года.
Ю.Токунов имеет большой опыт проведения семинаров на данную тематику. Его лекции приобрели известность благодаря ясности изложения сложного материала и стали доступны широкой публике.
Источник: eNANO
