В номере 7–8 в своей статье Д.В. Щеглов и другие представили анализ современных литографических методов создания мер нанометрового диапазона размеров и основные лимитирующие факторы применения таких мер. Показали перспективность создания высокоточных мер на основе атомно-структурированной кристаллической поверхности, параметры которых привязаны к кристаллографическим параметрам кристалла.
Также в номере опубликована статья В.Г. Пущина, где рассматриваются основные методические подходы к определению и визуализации наноструктурных состояний в компактных объемных и тонкомерных или порошковых материалах. Обсуждается классификация наноструктурных и нанофазных материалов. Описаны основные методы структурных исследований наноматериалов, в том числе прямых электронно-микроскопических исследований. Анализируются общие закономерности и специфические особенности структурной и фазовой нанодиагностики, описаны основные измеряемые фазовые и структурно-морфологические параметры и характеристики анализируемых материалов, их типичные погрешности и способы представления.
Образование нитеподобных филаментных структур из наночастиц золота и серебра было изучено в пористых стеклах Vycor и полимерных материалах типа сшитого олигоуретанметакрилата, легированных соответствующими органическими и неорганическими прекурсорами этих металлов, под воздействием непрерывного лазерного излучения видимого диапазона длин волн мощностью 5–100 мВт. Результаты проведенной работы представлены в статье А.О. Рыбалтовского с соавторами.
Загружайте приложение журнала для iPad и Android.
Архив за 2006–2010 годы теперь в открытом доступе.
Скачать деловой блок и содержание можно здесь.
Редакция
