Государственная корпорация «Российская корпорация нанотехнологий», Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии и Сибирское отделение РАН в период 25-29 апреля 2011 г. в Новосибирском научном центре проведут 4-ую Школу «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Функциональные наноматериалы».
Целью Школы является повышение квалификации специалистов компаний наноиндустрии, центров коллективного пользования, испытательных центров и лабораторий в области метрологического обеспечения производств, испытаний продукции наноиндустрии и стандартизации. На Школе предполагается заслушать лекции ведущих ученых по методам контроля технологических процессов получения и характеризации функциональных наноматериалов, специалистов по метрологии и стандартизации в данной области.
Программа Школы будет включать приглашенные лекции (40 мин), устные (15-20 мин) и стендовые доклады. Также в рамках школы будут представлены презентации современного исследовательского и метрологического оборудования для наноиндустрии от ведущих производителей.
Целью Школы является повышение квалификации специалистов компаний наноиндустрии, центров коллективного пользования, испытательных центров и лабораторий в области метрологического обеспечения производств, испытаний продукции наноиндустрии и стандартизации. На Школе предполагается заслушать лекции ведущих ученых по методам контроля технологических процессов получения и характеризации функциональных наноматериалов, специалистов по метрологии и стандартизации в данной области.
Программа Школы будет включать приглашенные лекции (40 мин), устные (15-20 мин) и стендовые доклады. Также в рамках школы будут представлены презентации современного исследовательского и метрологического оборудования для наноиндустрии от ведущих производителей.
Тематика Школы
Работа Школы пройдет в рамках последовательно действующих секций по направлениям:
1) Измерительные и испытательные возможности национальной нанотехнологической сети. Потребности компаний наноиндустрии РФ в развитии базы актуальных методик и стандартов.
Методы контроля технологических процессов получения и характеризации функциональных наноматериалов:
2)дисперсные наноматериалы (нанопорошки, нанотрубки, катализаторы, ансамбли нанообъектов и др.);
3)объемные наноструктурные материалы (нанокомпозиты, пористые наноматериалы, нанокерамика и др.);
4)наноструктурированные покрытия;
5)тонкие пленки (гетероструктуры сенсоры, и др.).
Работа Школы пройдет в рамках последовательно действующих секций по направлениям:
1) Измерительные и испытательные возможности национальной нанотехнологической сети. Потребности компаний наноиндустрии РФ в развитии базы актуальных методик и стандартов.
Методы контроля технологических процессов получения и характеризации функциональных наноматериалов:
2)дисперсные наноматериалы (нанопорошки, нанотрубки, катализаторы, ансамбли нанообъектов и др.);
3)объемные наноструктурные материалы (нанокомпозиты, пористые наноматериалы, нанокерамика и др.);
4)наноструктурированные покрытия;
5)тонкие пленки (гетероструктуры сенсоры, и др.).
Представление материалов
Участникам Школы предлагается выступить с устными (15-20 мин) или стендовыми докладами по тематике школы. В содержание докладов необходимо включить описание основных физико-технических параметров, достаточно полно характеризующих технологические процессы и формируемые объекты, с указанием целесообразных погрешностей их измерения, обозначить методы измерения и виды рекомендуемого измерительного оборудования.
Лучшие устные и стендовые доклады будут отмечены Программным комитетом специальными призами.
Тезисы докладов объемом 1 - 2 страницы, включая рисунки и список литературы, оформляются в формате А4 с полями 2,5 см. Редактор – Word for Windows. Шрифт – Times New Roman, размер шрифта 12 pt, междустрочный интервал – полуторный. За названием доклада (ПРОПИСНЫМИ БУКВАМИ, 14 pt) следуют фамилии авторов с верхними индексами, если они работают в разных организациях (буквы строчные), затем – названия организаций и E-mail докладчика (буквы строчные, курсив). Фамилию и инициалы докладчика необходимо подчеркнуть. Инициалы должны следовать за фамилиями авторов. Тезисы должны быть представлены в Оргкомитет не позднее 1 февраля 2011 года через сайт или по электронной почте zam@catalysis.ru. Файлы следует называть полной транслитерированной фамилией представляющего автора, напр., Kovalev.doc
Регистрационный взнос
Сумма оргвзноса участника школы составляет 7000 руб. Для сотрудников бюджетных научных и образовательных организаций – 5000 руб. Для студентов и аспирантов – 2000 руб. Оргвзнос включает оплату за выпуск сборника тезисов докладов, публикацию информационных материалов, портфель участника, аренду помещений и оргтехники, буфетное обслуживание. Взнос оплачивается перечислением средств на счет конференции, срок оплаты взноса – 10 апреля 2011 года.
Контактная информация
По вопросам регистрации и участия в школе:
Замулина Татьяна Владимировна
Телефон/Факс: (383) 330 62 97
E-mail: zam@catalysis.ru
По общим вопросам:
Сухарев Валентин Сергеевич
Тел.: +7 495 988 5388, доб. 1566
E-mail: valentin.sukharev@rusnano-mc.com
По вопросам регистрации и участия в школе:
Замулина Татьяна Владимировна
Телефон/Факс: (383) 330 62 97
E-mail: zam@catalysis.ru
По общим вопросам:
Сухарев Валентин Сергеевич
Тел.: +7 495 988 5388, доб. 1566
E-mail: valentin.sukharev@rusnano-mc.com
