Компания АИСТ НТ представила на Втором Международном форуме по нанотехнологиям свои разработки в области сканирующей зондовой микроскопии. Подробности - в предоставленном фото- и видеоматериале.
|
||||||||||||||||||||||||||||||
|
|
|||||||||||||||||||||||||||||
На первую - Новости - Публикации
- Библиотека
- Галерея
- Научные группы
- Олимпиада
- ABC
- Объявления
- О проекте
|
||||||||||||||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||||||||||||