Для получения изображений с нанометровым разрешением в атомно-силовых микроскопах используются специальные тонкие иглы. Чем меньше радиус иглы и чем она длиннее по сравнению с топологическими особенностями поверхности, тем больше возможностей для получения качественных изображений. Прикрепить такую иглу к кантилеверу микроскопа довольно непросто. Кроме того, необходимо, чтобы соединение было прочным, а игла была ориентирована перпендикулярно исследуемой поверхности.
Исследователи из Италии и США предложили в качестве игл для высокоразрешающей атомно-силовой микроскопии использовать полупроводниковые тетраподы. Идея состоит в том, что тетрапод на плоской поверхности всегда стоит на трех ножках, в то время как четвертая направлена вертикально.
Сначала по стандартной методике были синтезированы тетраподы CdTe. Длина ножек составила 100-300 нм, а диаметр около 10 нм. Потом обычная игла для АСМ из SiN стачивалась об алмазную подложку для получения плоской поверхности на ее кончике. Далее на нее наносился тонкий металлический слой.
Металлизированная игла помещалась в толуол, в котором были диспергированы тетраподы. Под действием переменного тока тетраподы притягивались к поверхности и фиксировались там. Количество тетраподов на поверхности кантилевера можно регулировать путем варьирования концентрации тетраподов в растворе.
Электронная микроскопия показала, что тетраподы и правда стоят на трех ножках, а четвертая направлена перпендикулярно поверхности. При этом тетраподы сильно деформированы таким образом, что опорные ножки лежат в одной плоскости. Это говорит об их прочном соединении с кантилевером.
Иглы хорошо проявили себя во время испытаний. Кроме того, они оказались довольно прочными. За несколько часов работы тетрапод не отвалился от кантилевера и заметно не износился.
Работа «Probe Tips Functionalized with Colloidal Nanocrystal Tetrapods for High-Resolution Atomic Force Microscopy Imaging» опубликована в журнале Small.
Исследователи из Италии и США предложили в качестве игл для высокоразрешающей атомно-силовой микроскопии использовать полупроводниковые тетраподы. Идея состоит в том, что тетрапод на плоской поверхности всегда стоит на трех ножках, в то время как четвертая направлена вертикально.
Сначала по стандартной методике были синтезированы тетраподы CdTe. Длина ножек составила 100-300 нм, а диаметр около 10 нм. Потом обычная игла для АСМ из SiN стачивалась об алмазную подложку для получения плоской поверхности на ее кончике. Далее на нее наносился тонкий металлический слой.
Металлизированная игла помещалась в толуол, в котором были диспергированы тетраподы. Под действием переменного тока тетраподы притягивались к поверхности и фиксировались там. Количество тетраподов на поверхности кантилевера можно регулировать путем варьирования концентрации тетраподов в растворе.
Электронная микроскопия показала, что тетраподы и правда стоят на трех ножках, а четвертая направлена перпендикулярно поверхности. При этом тетраподы сильно деформированы таким образом, что опорные ножки лежат в одной плоскости. Это говорит об их прочном соединении с кантилевером.
Иглы хорошо проявили себя во время испытаний. Кроме того, они оказались довольно прочными. За несколько часов работы тетрапод не отвалился от кантилевера и заметно не износился.
Работа «Probe Tips Functionalized with Colloidal Nanocrystal Tetrapods for High-Resolution Atomic Force Microscopy Imaging» опубликована в журнале Small.
Если есть сходимость, думаю идея найдет все же применение, если сходимости нет, то это, скорее всего, просто очередной отпечаток в истории нанотехнологий 
