ОАО “НИЦПВ” и ОАО “Концерн “Наноиндустрия” приглашают специалистов научно-производственных предприятий посетить семинар “Метрология, измерения и стандартизация в нанотехнологиях", который пройдет в рамках научно-практической конференции выставки “Метрология-
На семинаре выступят с докладами и ответят на актуальные вопросы ген.директор ОАО “НИЦПВ”, д.ф-м.н. Павел Андреевич Тодуа, ген.директор ОАО “Концерн “Наноиндустрия, д.т.н. Михаил Арсенович Ананян и ведущие сотрудники этих организаций.
Семинар состоится 05 июня 2008 года с 11.00 до 13.00 в Москве, на ВВЦ, павильон №55 (“Электрификация”) в конференц-зале выставки “Метрология-
Бесплатное приглашение для специалистов и представителей СМИ на посещение выставки и научно-практической конференции можно распечатать по ссылке.
Расписание научно-практической конференции выставки “Метрология-