В рамках проведения XXII Российской конференции по электронной микроскопии 2 июня 2008 г. в г. Черноголовка Московской обл. состоится Школа молодых ученых "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов".
Желающих принять участие в данном мероприятии 2 июня в 9.00 у метро "Щелковская" (выход против хода поезда) будет ждать автобус Оргкомитета. Проезд бесплатный. Для опоздавших: от 11 перрона (это у главного входа) Автовокзала (метро "Щелковская" каждые 30 мин отправляются экспрессы N 360 Москва-Дуброво и N 320 Москва-Черноголовка, и маршрутные такси N 320 Москва-Черноголовка. Стоимость проезда на 2 апреля 2008 г. 70 руб.
Начало лекций в 11.00. Лекции будут читаться в Большой гостиной Дома учёных.
Большая гостиная находится рядом с гостиницей РАН, вход - с противоположной стороны от входа в гостиницу.
Организаторы:
Научный совет РАН по электронной микроскопии;
Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН;
Институт кристаллографии имени А.В. Шубникова РАН.
Лектора:
1. Шкловер В.Я. Коррекция сферической и хроматической аберрации и
субангстремная электронная микроскопия. (45 мин )
2. Киселев Н.А. Структура нанокомпозитов 1D кристалл@ОСНТ. (45 мин)
Перерыв 10 мин.
3. Васильев А.Л. Электронная микроскопия и микроанализ новых алюминиевых
аморфных и нанокристаллических сплавов. (45 мин)
4. Гутаковский А. Применение высокоразрешающей электронной микроскопии
для исследования низкоразмерных структур. (45 мин)
Обед: 14.10 - 15.10
5. Бухараев А.А. Сканирующая зондовая микроскопия поверхности
нанокатализаторов. (45 мин)
6. Якимов Е.Б. Исследование локальных электрических свойств
полупроводниковых материалов и структур методами РЭМ. (45 мин)
Перерыв 10 мин.
7. Иванов С.А. Исследование наноматериалов и наноструктур с помощью
200 кВ ПЭМ с корректором сферических абераций. (45 мин)
8. Шкловер В.Я. Что такое сфокусированный ионный пучок и его
роль в нанотехнологии. (45 мин)
Участие в Школе не требует оплаты оргвзноса.
