Научные группы: Лаборатория структурных исследований

Институт физики твердого тела РАН

• наноматериалы
• рентгеновская оптика
• электронная микроскопия

• Абросимова Галина Евгеньевна , старший научный сотрудник, кандидат наук
• Аристова Ирина Марковна , научный сотрудник, кандидат наук
• Аронин Александр Семенович , заведующий лабораторией, доктор наук
• Афоникова Наталья Сергеевна , научный сотрудник, кандидат наук
• Гончаров Владимир Алексеевич , старший научный сотрудник, кандидат наук
• Дегтярева Валентина Феогниевна , ведущий научный сотрудник, доктор наук
• Зверькова Ирина Ильинична , научный сотрудник, кандидат наук
• Зорина Леокадия Вениаминовна , научный сотрудник, кандидат наук
• Игнатьева Елена Юрьевна , младший научный сотрудник, кандидат наук
• Мазилкин Андрей Александрович , научный сотрудник, кандидат наук
• Матвеев Данила Викторович , научный сотрудник, кандидат наук
• Пронина Людмила Николаевна , старший научный сотрудник, кандидат наук
• Рыбченко Оксана Геннадьевна , научный сотрудник, кандидат наук
• Седых Вера Дмитриевна , старший научный сотрудник, кандидат наук
• Смирнова Ирина Алексеевна , старший научный сотрудник, кандидат наук
• Суворов Эрнест Витальевич , научный сотрудник, доктор наук
• Хасанов Салават Салимьянович , старший научный сотрудник, кандидат наук
• Шехтман Вениамин Шоломович , научный сотрудник, доктор наук
• Шибаева Римма Павловна, ведущий научный сотрудник, доктор наук
• Шмурак Семен Залманович , ведущий научный сотрудник, доктор наук
• Шмытько Иван Михайлович , ведущий научный сотрудник, доктор наук

Лаборатория структурных исследований (ЛСИ) была образована в 2003 году путем объединения Лаборатории рентгеновской оптики и электронной микроскопии и Лаборатории структурного анализа.

В настоящее время в ЛСИ сосредоточены основные, имеющиеся в институте методики, связанные с изучением структуры и состава материалов и соответствующее оборудование для электронно-микроскопического и рентгеноструктурного анализа монокристаллических, поликристаллических и аморфных объектов при низких (вплоть до гелиевых), комнатных и повышенных температурах.

Основные направления научных исследований:

1)исследования реальной структуры и фазовых превращений, установление корреляции структуры и свойств

• в аморфных и нанокристаллических материалах

(А.С.Аронин, Г.Е.Абросимова, И.И.Зверькова, О.Г.Рыбченко, Д.В.Матвеев, Е.Ю.Игнатьева)

• в низкоразмерных органических проводниках

(Р.П.Шибаева, С.С.Хасанов, Л.В.Зорина, С.В.Симонов)

• в сцинтилляторах

(С.З.Шмурак, А.П.Киселев)

2)исследования структуры и фазовых переходов при различных условиях

• в материалах ВТСП и других оксидных системах c о структурой перовскита (В.Ш.Шехтман, В.Д.Седых, В.А.Гончаров, И.К.Бдикин)

• в апериодических системах (И.М.Шмытько, Н.С.Афоникова, Е.А.Кудренко)

• в металлах, сплавах и бинарных системах sp металлов при высоком давлении (В.Ф.Дегтярева, Л.Н.Пронина, И.М.Аристова, А.А.Мазилкин)

• в фуллеренах и фуллереновых комплексах (С.С.Хасанов, О.Г.Рыбченко, Г.Е.Абросимова, В.Ш.Шехтман)

3)исследования реальной структуры кристаллов

• Изучение дифракционных механизмов образования дифракционного изображения дефектов кристаллической решетки
( Э.В.Суворов, И.А.Смирнова, Е.В.Шулаков)

• Исследование тонких приповерхностных эпитаксиальных слоев методами рентгеновской дифракционной оптики
( Э.В.Суворов, И.А.Смирнова, Е.В.Шулаков)

• Высокоразрешающий электронный микроскоп JEOL – 4000 EX
• монокристальный 4-х кружный дифрактометр Enraf-Nonius CAD4
• просвечивающий электронный микроскоп JEM-100CX
• просвечивающий электронный микроскоп JEM-100CX-11
• рентгеновский дифрактометр Siemens D-500
• рентгеновский дифрактометр ДРОН -2
• рентгеновский дифрактометр ДРОН-4
• сканирующий электронный микроскоп JSM 25 S
• сканирующий электронный микроскоп Supra 50VP