Ученые из США смогли значительно улучшить быстродействие сканирующего туннельного микроскопа. Теперь получение изображения требует в 100 раз меньше времени, чем раньше. Более того, теперь появилась возможность не просто визуализировать поверхность, но и снимать видео.
С момента своего создания сканирующая туннельная микроскопия была одним из самых популярных методов исследования наноразмерных объектов. Она основана на измерении туннельного тока между поверхностью и специальной иглой микроскопа. До сих пор именно измерение этого тока являлось ограничивающим фактором быстродействия прибора.
Исследователи предложили для измерения туннельного тока схему согласования импедансов (impedance matching), что позволило значительно понизить время отклика системы. Изобретение, несомненно, расширит возможности исследователей. Ранее для изучения процессов, протекающих на поверхности, им приходилось прибегать к ряду ухищрения, например, понижать температуру. Кроме того, новая технология может быть без проблем интегрирована в уже существующие приборы.
Работа «Radio-frequency scanning tunnelling microscopy» была опубликована в Nature.
