http://www.nanometer.ru/ylogo.jpg http://www.nanometer.ru/ylogo.jpg http://www.nanometer.ru/ Нанотехнологическое сообщество "Нанометр" http://www.nanometer.ru/nm100.gifhttp://www.nanometer.ru/ Sat, 03 Oct 2026 01:45:29 +0300 http://www.nanometer.ru/2009/09/09/ibm_156784.html Набиуллин Александр Ринатович: Э...[:shok:]А с размерностью тут ошибок нету? Игла АСМ должна пробегать над исследуемой поверхностью несколько [B]километров[/B]?Кроме того, что если на иглу налипнет кусок исследуемого материала (например, белка или полимера)? Thu, 10 Sep 2009 10:16:02 +0300 http://www.nanometer.ru/2009/09/09/ibm_156784.html Евтушенко Евгений Геннадиевич: Александр, давайте прикинем.Допустим, что размер скана составляет 10 мкм × 10 мкм. В скане 512 линий (или 1024). Значит, за один скан (с учетом того, что игла должна пройти линию туда и обратно), получаем 10-20 мм. Сканов с образца снимается 5-7 для статистики, за день 3-5 образцов. Как правило, кантилевер дольше 2 дней не живет, а чаще всего меняется каждый день. Получаем максимальный "пробег" кантилевера около 70 см. Добавим еще 50% на перемещения между сканами, рестарты для устранения крипа, получим около метра-полутора.А в целом, вы правы - гораздо чаще кантилевер приходится менять не из-за его "стачивания", а из-за того, что он подхватывает с поверхности частички грязи, пыли или исследуемого образца. Fri, 11 Sep 2009 01:10:30 +0300