Нанотехнологическое сообщество Нанометр, все о нанотехнологиях
на первую страницу Новости Публикации Библиотека Галерея Сообщество Объявления Олимпиада ABC О проекте
 
  регистрация
помощь
 

IV Интернет - олимпиада по нанотехнологиям: Лекции: Основы электронной микроскопии (обсуждение)

Всероссийская Интернет-олимпиада школьников, студентов, аспирантов и молодых ученых в области наносистем, наноматериалов и нанотехнологий "Нанотехнологии - прорыв в Будущее!"

24 октября 2009

ПОЖАЛУЙСТА, дайте свои рекомендации по этому курсу...

Авторы:А.В.Гаршев (кандидат химических наук, научный сотрудник, ФНМ МГУ), В.И.Путляев (кандидат химических наук, доцент, Химфак МГУ)

Целью курса является теоретическое и практическое освоение слушателями наиболее распространенных методов анализа материалов с использованием растровых и просвечивающих электронных микроскопов. В курсе будут рассмотрены устройства основных узлов электронных микроскопов, описана работа детекторов и рассмотрены примеры исследования некоторых материалов. Курс предназначен для студентов старших курсов, дипломников, магистров и аспирантов ВУЗов, занимающихся исследовательской работой в области материаловедения, металловедения, разработки ультрадисперсных материалов, а также ученых-синтетиков, использующих электронную микроскопию как метод исследования материалов. В курс включена информация, необходимая как для обработки уже имеющихся данных, полученных на растровом или просвечивающем электронном микроскопе, так и для практической работы на приборе. Для полного понимания и осмысления изложенной информации целевая аудитория должна дополнительно прослушать курсы лекций по структурным методам анализа конденсированного состояния вещества и по физическим методам анализа элементного состава материалов.

План лекций:

  • Взаимодействие ускоренных электронов с веществом. Приведены описания физических процессов, имеющих место при взаимодействии электронов с массивными и тонкими образцами. Рассмотрены принципиальные возможности электронных микроскопов в случае их применения для анализа материалов.
  • Устройство электронных микроскопов. Описано техническое оснащение, общая конструкция электронных микроскопов и характеристики аналитической информации, получаемой с использованием различно оснащенных микроскопов. В раздел включены некоторые комментарии по истории развития электронной микроскопии.
  • Растровая электронная микроскопия (РЭМ). Рассматриваются теоретические основы возникновения топографического и элементного контраста, обсуждаются некоторые проблемы интерпретации аналитической информации при исследовании трехмерных объектов.
  • Количественный и полуколичественный рентгеноспектральный микроанализ на РЭМ. Описываются физические принципы анализа, кратко рассказывается об истории развития метода и основных подходах к обработке аналитической информации.
  • Подготовка образцов для исследования на РЭМ. Основной темой данной лекции является подготовка диэлектрических и электропроводящих массивных и порошковых образцов для анализа на растровом электронном микроскопе.
  • Просвечивающая электронная микроскопия. Освещаются теоретические основы методов ПЭМ, обсуждаются некоторые проблемы интерпретации аналитической информации. Описываются возможности, достоинства и недостатки распространенных методик анализа.
  • Дифракция ускоренных электронов при взаимодействии с кристаллическими материалами. Основными темами лекции являются: физические принципы возникновения электронной дифракции, методики получения картин дифракции электронов в ПЭМ, применение ПЭМ для анализа кристаллических структур материалов.
  • Просвечивающая электронная микроскопия высокого разрешения. Приводятся описание методов позволяющих достигать высокого разрешения, рассматриваются примеры программ, применяемых для интерпретации экспериментальных данных.
  • Элементный анализ с использованием ПЭМ. Лекция посвящена описанию методик, применяемых в ПЭМ для полуколичественного анализа элементного состава материалов: рентгеноспектральный микроанализ, спектроскопия характеристических потерь энергии электронов.
  • Подготовка образцов для исследования на ПЭМ. Основной темой данной лекции является подготовка образцов для анализа на просвечивающем электронном микроскопе.

В качестве примера приводится работа магистрантов ФНМ МГУ...

 

Прикрепленные файлы:
TEMSEM1.pdf (1.88 Мб.)

 
TEMSEM2.pdf (1.09 Мб.)

 
TEMSEM3.pdf (2.27 Мб.)

 
TEMSEM4.pdf (975.76 Кб.)

 
TEMSEM5.pdf (727.92 Кб.)

 
 



Вопросы лектору можно задать в разделе вопросы/ответы
Мезопористый оксид церия-циркония
Мезопористый оксид церия-циркония

SCAMT Workshop Week - практическая летняя школа
SCAMT Workshop Week (SWW) - это уникальный новый формат летней школы: за 1 неделю у тебя будет возможность сделать научный проект в одной из самых современных областей нанотехнологий и освоить новые практические навыки.

МГУ — в сотне лучших вузов мира по версии QS World University Rankings
6 июня 2018 года опубликован новый глобальный рейтинг вузов QS World University Rankings, в котором Московский государственный университет имени М.В.Ломоносова прибавил 5 позиций по сравнению с предыдущим годом и занял 90-е место. Как отметили составители рейтинга, с 2014 года Московский университет поднялся уже на 30 позиций и демонстрирует стабильную положительную динамику.

Пресс-служба МГУ: Химики МГУ научили анализаторы светиться от запаха взрывчатки
Сотрудники химического факультета МГУ совместно с исследователями ИОХ РАН создали пористый гель, способный изменять свои оптические свойства в присутствии опасных органических веществ.

Материалы к защитам квалификационных работ бакалавров на ФНМ МГУ в 2018 году
Коллектив авторов
Защиты квалификационных работ (квалификация – бакалавр материаловедения) по направлению 04.03.02 - «химия, физика и механика материалов» на Факультете наук о материалах МГУ имени М.В.Ломоносова состоятся 4, 5, 6, 7 и 8 июня 2018 г. Начало защит в 11.00. Защиты пройдут в аудитории 221 корпуса Б.

Научно-исследовательская работа студентов в 7 семестре 2017/2018 учебного года. Тезисы докладов на студенческой научной конференции.
Сафронова Т.В.
Настоящий сборник содержит тезисы докладов зимней научной студенческой конференции студентов 4-го курса ФНМ-2014, которая состоялась 22-23 января 2018 года.

Материалы к защитам квалификационных работ магистров на ФНМ МГУ в 2018 году

22-25 мая 2018 года в аудитории 235 лабораторного корпуса Б пройдут защиты магистерских диссертаций выпускниками ФНМ (начало в 11:00).

Инновационные системы: достижения и проблемы
Олег Фиговский, Валерий Гумаров

О наноолимпиаде замолвите слово...

Прошла XII Всероссийская олимпиада "Нанотехнологии - прорыв в Будущее!" Мы надеемся, что нам для улучшения организации последующих наноолимпиад поможет электронное анкетирование. Мы ждем Ваших замечаний, пожеланий, предложений. Спасибо заранее!

Опыт обучения в области нанотехнологического технопредпринимательства

В этом опросе мы просим поделиться опытом и Вашим отношением к нанотехнологическому технопредпринимательству и смежным областям. Заранее спасибо за Ваше неравнодушие!

Проектная работа

Сегодня становится все более популярной так называемая проектная работа школьников, однако на этот счет есть очень разные мнения. Мы были бы признательны, если бы Вы высказали кратко свое мнение по этому поводу путем голосования. Заранее благодарны!



 
Сайт создан в 2006 году совместными усилиями группы сотрудников и выпускников ФНМ МГУ.
Сайт модернизирован для ресурсной поддержки проектной деятельности учащихся в рамках ГК 16.647.12.2059 (МОН РФ)
Частичное или полное копирование материалов сайта возможно. Но прежде чем это делать ознакомьтесь с инструкцией.